[나노신소재공학과] 강연 : Introduction to Probe Card & Probing Test

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  • nanodpt@sejong.ac.kr
  • 02-3408-3668
  • 광개토관 806호
나노신소재 분야의 산학연 전문가들을 초청하여 관련 연구 및 산업을 학생들에게 소개하고 관련 분야의 진학, 취업, 창업을 유도하는 프로그램임.

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특강주제 :  Introduction to Probe Card & Probing Test

특강일시/장소 : 20.11.20 (금) 12:00-16:00 / 광개토관 806호

특강강사 : 신상훈 소장님 (윌테크놀러지(주))

특강목적 및 기대효과 : 본 강의에서는 반도체 제조 공정 후 이어지는 양.불량 검사에 필수적으로 사용되는 “프로브 카드”에 대해 소개하고자 한다. 프로브 카드는 검사 대상 반도체 소자의 종류에 따라 다양한 형태로 제작된다. 본 강의를 통해 프로브 카드 기술 및 그 외 프로브 기술이 사용되는 다양한 분야에 대해 소개하고, 반도체 산업의 한 분야로서 프로브 카드에 대한 이해를 돕고자 한다

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